Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Applied Measurement with jMetrik 1. Painos
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Hinta
€ 80,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti 26. joulu - pe 5. tammi 2024
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Tilføj til din iMusic ønskeseddel
Löytyy myös muodossa:
Applied Measurement with jMetrik 1. Painos
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | Storbritannien, keskiviikko 25. kesäkuuta 2014 |
| ISBN13 | 9780415531979 |
| Tuottaja | Taylor & Francis Ltd |
| Sivujen määrä | 170 |
| Mitta | 229 × 153 × 9 mm · 266 g |
| Kieli | English |