Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Hinta
Mex$ 5.097,40
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti 22. loka - pe 1. marras
Lisää iMusic-toivelistallesi
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
Julkaisupäivämäärä | sunnuntai 31. joulukuuta 2000 |
ISBN13 | 9780792366867 |
Tuottaja | Springer |
Sivujen määrä | 624 |
Mitta | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
Kieli | English |
Toimittaja | Griscom, David L. |
Toimittaja | Pacchioni, Gianfranco |
Toimittaja | Skuja, Linards |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Gianfranco Pacchioni
Katso kaikki joka sisältää Gianfranco Pacchioni ( Esim. Book Ja Paperback Book )