Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Kenneth M. Butler - Kirjat - Springer - 9780792392224 - torstai 31. lokakuuta 1991
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition

Kenneth M. Butler

Hinta
CA$ 162,24

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 6. - 14. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

132 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 31. lokakuuta 1991
ISBN13 9780792392224
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 132
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   399 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Kenneth M. Butler ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )