Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - tiistai 30. marraskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Hinta
€ 111,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe 26. kesä - ma 6. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 30. marraskuuta 2010
ISBN13 9783642093418
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 387
Mitta 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Kieli Saksa  
Toimittaja Bhushan, Bharat
Toimittaja Fuchs, Harald
Toimittaja Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver