Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Kirjat - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - maanantai 31. maaliskuuta 1986
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Vastaanota sähköposti kun titteli on saatavilla
Onko sinulla profiili? Kirjaudu sisään
Saat ilmoituksen artistin Patrick Echlin uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 31. maaliskuuta 1986
ISBN13 9780306421402
Tuottaja Springer Science+Business Media
Sivujen määrä 454
Mitta 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Patrick Echlin

Näytä kaikki

Lisää samalta julkaisijalta