Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Onko sinulla profiili? Kirjaudu sisään
Saat ilmoituksen artistin Patrick Echlin uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | maanantai 31. maaliskuuta 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Tuottaja | Springer Science+Business Media |
| Sivujen määrä | 454 |
| Mitta | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Kieli | Englanti |
Lisää tuotteita Patrick Echlin
Näytä kaikkiLisää samalta julkaisijalta
Katso kaikki joka sisältää Patrick Echlin ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )