Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition
A W Czanderna
Hinta
€ 174,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ma - ke 11. - 20. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition
A W Czanderna
The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
430 pages, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | lauantai 31. lokakuuta 1998 |
| ISBN13 | 9780306458965 |
| Tuottaja | Springer Science+Business Media |
| Sivujen määrä | 430 |
| Mitta | 156 × 234 × 25 mm · 811 g |
| Toimittaja | Czanderna, Alvin W. |
| Toimittaja | Madey, Theodore E. |
| Toimittaja | Powell, Cedric J. |
Katso kaikki joka sisältää A W Czanderna ( Esim. Hardcover Book )