Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Kirjat - Chapman and Hall - 9780412145612 - sunnuntai 31. tammikuuta 1999
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Lawrence C Wagner
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Hinta
€ 149,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 12. - 20. tammi 2026
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä sunnuntai 31. tammikuuta 1999
ISBN13 9780412145612
Tuottaja Chapman and Hall
Sivujen määrä 255
Mitta 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Wagner, Lawrence C.

Katso kaikki joka sisältää Lawrence C Wagner ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )