Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques - Quality and Reliability Engineering Series - Beck, Friedrich (Siemens AG, Munich, Germany) - Kirjat - John Wiley & Sons Inc - 9780471974017 - maanantai 19. tammikuuta 1998
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques - Quality and Reliability Engineering Series

Beck, Friedrich (Siemens AG, Munich, Germany)

Hinta
€ 240,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - ma 3. - 14. huhti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques - Quality and Reliability Engineering Series

The construction and failure analysis of highly integrated semiconductor components has gained in significance with the explosive growth in the semiconductor industry. Once a subordinate laboratory task, semiconductor failure analysis has now become a discipline in its own right.

190 pages, index

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 19. tammikuuta 1998
ISBN13 9780471974017
Tuottaja John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 190
Mitta 237 × 159 × 16 mm   ·   396 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Beck, Friedrich (Siemens AG, Munich, Germany) ( Esim. Hardcover Book )