Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy - Nigel D Browning - Kirjat - Cambridge University Press - 9780521554909 - torstai 6. heinäkuuta 2000
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Nigel D Browning

Hinta
€ 194,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 10. - 21. tammi 2025
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.


406 pages, 267 b/w illus. 3 tables

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 6. heinäkuuta 2000
ISBN13 9780521554909
Tuottaja Cambridge University Press
Sivujen määrä 406
Mitta 170 × 244 × 24 mm   ·   1,13 kg
Toimittaja Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago)
Toimittaja Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee)