Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

L Skuja

Hinta

SEK 2.239

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 4. - 12. elo

Asiakkaamme sanovat:

Lisää iMusic-toivelistallesi

Eller

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Media	Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä	sunnuntai 31. joulukuuta 2000
ISBN13	9780792366850
Tuottaja	Springer
Sivujen määrä	624
Mitta	155 × 235 × 34 mm · 1,06 kg
Kieli	English
Toimittaja	Griscom, David L.
Toimittaja	Pacchioni, Gianfranco
Toimittaja	Skuja, Linards