Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Hinta
€ 238,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti - pe 18. - 28. kesä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | sunnuntai 31. joulukuuta 2000 |
| ISBN13 | 9780792366867 |
| Tuottaja | Springer |
| Sivujen määrä | 624 |
| Mitta | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
| Kieli | English |
| Toimittaja | Griscom, David L. |
| Toimittaja | Pacchioni, Gianfranco |
| Toimittaja | Skuja, Linards |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Gianfranco Pacchioni
![Cover for Gianfranco Pacchioni · Cluster Models for Surface and Bulk Phenomena - NATO Science Series B (Paperback Book) [Softcover reprint of the original 1st ed. 1992 edition] (2012)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/230/9781468460230.jpg?gianfranco-pacchioni-2012-cluster-models-for-surface-and-bulk-phenomena-nato-science-series-b-paperback-book&class=scaled&v=1428412579)
Katso kaikki joka sisältää Gianfranco Pacchioni ( Esim. Book Ja Paperback Book )