Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Kirjat - Springer - 9780792386698 - torstai 30. syyskuuta 1999
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing 2000 edition

Benoit Nadeau-dostie

Hinta
Íkr 21.382,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 11. - 19. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing 2000 edition

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 30. syyskuuta 1999
ISBN13 9780792386698
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 239
Mitta 178 × 254 × 15 mm   ·   653 g
Kieli English  
Toimittaja Nadeau-Dostie, Benoit

Katso kaikki joka sisältää Benoit Nadeau-dostie ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )