Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition
Yusuf Leblebici
Hinta
€ 233,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti - pe 15. - 25. loka
Lisää iMusic-toivelistallesi
Löytyy myös muodossa:
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition
Yusuf Leblebici
The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.
229 pages, biography
Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 30. kesäkuuta 1993 |
ISBN13 | 9780792393528 |
Tuottaja | Springer |
Sivujen määrä | 212 |
Mitta | 155 × 235 × 14 mm · 508 g |
Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Yusuf Leblebici ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )