Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Kirjat - Springer - 9780792393528 - keskiviikko 30. kesäkuuta 1993
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Yusuf Leblebici

Hinta
₩ 321.970

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 7. - 15. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

229 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 30. kesäkuuta 1993
ISBN13 9780792393528
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 212
Mitta 155 × 235 × 14 mm   ·   508 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Yusuf Leblebici ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )