Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices - - Kirjat - Institution of Engineering and Technolog - 9780863417450 - perjantai 30. toukokuuta 2008
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices

Hinta
Ft 51.248

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 4. - 15. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-signal and Rf Integrated Circuits: the System on Chip Approach - Materials, Circuits and Devices

This book provides a comprehensive discussion of automatic testing, diagnosis and tuning of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits, and systems in a single source. The book reports systematically the state of the arts and future research directions of those areas.

408 pages, Illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 30. toukokuuta 2008
ISBN13 9780863417450
Tuottaja Institution of Engineering and Technolog
Sivujen määrä 408
Mitta 159 × 232 × 23 mm   ·   612 g
Toimittaja Sun, Yichuang