Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - perjantai 29. lokakuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Hinta
€ 235,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma 27. heinä - ti 4. elo
Saat ilmoituksen artistin Weilie Zhou uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 29. lokakuuta 2010
ISBN13 9781441922090
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 522
Mitta 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Wang, Zhong Lin
Toimittaja Zhou, Weilie

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää Weilie Zhou ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )