Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering - Telman Aliev - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441944108 - keskiviikko 24. marraskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Telman Aliev

Hinta
Ft 40.498

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 8. - 18. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Digital Noise Monitoring of Defect Origin - Lecture Notes in Electrical Engineering Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise.

224 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 24. marraskuuta 2010
ISBN13 9781441944108
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 224
Mitta 155 × 235 × 12 mm   ·   335 g
Kieli English  
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Telman Aliev

Katso kaikki joka sisältää Telman Aliev ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )