Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing - Mohammad Tehranipoor - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441945136 - tiistai 23. marraskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Mohammad Tehranipoor
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Hinta
€ 149,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke 24. joulu - to 1. tammi 2026
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes.

422 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 23. marraskuuta 2010
ISBN13 9781441945136
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 408
Mitta 155 × 235 × 21 mm   ·   589 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Tehranipoor, Mohammad

Lisää tuotteita Mohammad Tehranipoor

Näytä kaikki

Katso kaikki joka sisältää Mohammad Tehranipoor ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )