IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - perjantai 12. lokakuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Ravi K Gulati

Hinta
€ 101,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 19. - 29. syys

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. lokakuuta 2012
ISBN13 9781461363774
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 124
Mitta 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
Kieli English  
Toimittaja Gulati, Ravi K.
Toimittaja Hawkins, Charles F.

Katso kaikki joka sisältää Ravi K Gulati ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )