Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363835 - sunnuntai 23. helmikuuta 2014
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Jose Pineda de Gyvez

Hinta
DKK 757,68

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 7. - 15. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

191 pages, 48 black & white illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä sunnuntai 23. helmikuuta 2014
ISBN13 9781461363835
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 167
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   281 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Jose Pineda de Gyvez ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )