Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - S.T. Chadradhar - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461367673 - perjantai 28. syyskuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

S.T. Chadradhar

Hinta
HK$ 925,10

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 6. - 14. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Neural Models and Algorithms for Digital Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2 Notation and Tenninology . 3 Minimization Technique . 4 An Example . 1 Transitive Oosure . 3 Path Sensitization . 100 References . 1 Background . 6 Summary 119 References . 2 Contribution of the Present Work . 139 References . 3 Logic Circuit Modeling . 1 Modelfor a Boolean Gate .

197 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 28. syyskuuta 2012
ISBN13 9781461367673
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 184
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   290 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää S.T. Chadradhar ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )