Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - perjantai 12. lokakuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Kai-yuan Cai

Hinta
Mex$ 4.342,80

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 14. - 22. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1


268 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. lokakuuta 2012
ISBN13 9781461375593
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 268
Mitta 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
Kieli English  

Näytä kaikki

Lisää tuotteita Kai-yuan Cai