Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing - Benoit Nadeau-dostie - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475782912 - perjantai 26. huhtikuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Benoit Nadeau-dostie

Hinta
元 1.263,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 14. - 22. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 26. huhtikuuta 2013
ISBN13 9781475782912
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 239
Mitta 178 × 254 × 14 mm   ·   458 g
Kieli English  
Toimittaja Nadeau-Dostie, Benoit

Katso kaikki joka sisältää Benoit Nadeau-dostie ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )