Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475790290 - lauantai 8. kesäkuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 edition

Hinta
€ 104,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti 23. kesä - ke 1. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


466 pages, 357 black & white illustrations, 7 colour illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä lauantai 8. kesäkuuta 2013
ISBN13 9781475790290
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 454
Mitta 152 × 229 × 24 mm   ·   630 g
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Patrick Echlin

Näytä kaikki

Mere med samme udgiver