An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Kirjat - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740249 - perjantai 16. lokakuuta 2015
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Sarah Fearn

Hinta
€ 42,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke 23. heinä - pe 1. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

66 pages, colour illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 16. lokakuuta 2015
ISBN13 9781681740249
Tuottaja Morgan & Claypool Publishers
Sivujen määrä 66
Mitta 177 × 256 × 8 mm   ·   181 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Sarah Fearn ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )