Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) - Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) - Kirjat - Imperial College Press - 9781783265282 - maanantai 18. toukokuuta 2015
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2. Painos

Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)

Hinta
SEK 1.279

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 4. - 15. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2. Painos

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

350 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 18. toukokuuta 2015
ISBN13 9781783265282
Tuottaja Imperial College Press
Sivujen määrä 432
Mitta 160 × 238 × 23 mm   ·   802 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) ( Esim. Hardcover Book )