Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices - - Kirjat - Institution of Engineering and Technolog - 9781785616556 - maanantai 16. joulukuuta 2019
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

Hinta
€ 151,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - ma 3. - 14. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

This book provides an up-to-date review of the experimental and theoretical methods used for studying defects in semiconductors, this book focuses on recent developments driven by the requirements of new materials, including nitrides, oxide semiconductors and 2-D semiconductors.

596 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 16. joulukuuta 2019
ISBN13 9781785616556
Tuottaja Institution of Engineering and Technolog
Sivujen määrä 596
Mitta 1,09 kg
Toimittaja Tuomisto, Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland)