Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Kirjat - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - perjantai 12. elokuuta 2016
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Hinta
€ 174,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to 22. loka - to 5. marras
Saat ilmoituksen artistin Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. elokuuta 2016
ISBN13 9781848219366
Tuottaja ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 320
Mitta 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Lisää tuotteita Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Näytä kaikki

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)