Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics -  - Kirjat - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - lauantai 24. elokuuta 2019
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Hinta
€ 184,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 10. - 18. kesä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.


408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Media Kirjat     Book
Julkaisupäivämäärä lauantai 24. elokuuta 2019
ISBN13 9783030156114
Tuottaja Springer Nature Switzerland AG
Sivujen määrä 408
Mitta 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Kieli Saksa  
Toimittaja Celano, Umberto

Mere med samme udgiver