Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials - M Lanza - Kirjat - Wiley-VCH Verlag GmbH - 9783527340910 - keskiviikko 11. lokakuuta 2017
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

M Lanza

Kirjaudu sisään saadaksesi viestin kun tuotetta on jälleen saatavilla

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi

Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

400 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 11. lokakuuta 2017
ISBN13 9783527340910
Tuottaja Wiley-VCH Verlag GmbH
Sivujen määrä 384
Mitta 251 × 176 × 25 mm   ·   978 g
Kieli English  
Toimittaja Lanza, Mario

Katso kaikki joka sisältää M Lanza ( Esim. Hardcover Book )