Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - keskiviikko 22. helmikuuta 2006
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

Bharat Bhushan

Hinta
£ 127,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 12. - 20. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 22. helmikuuta 2006
ISBN13 9783540269090
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 378
Mitta 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Kieli German  
Toimittaja Bhushan, Bharat
Toimittaja Fuchs, Harald

Näytä kaikki

Lisää tuotteita Bharat Bhushan