Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition
Bharat Bhushan
Hinta
£ 127,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 12. - 20. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition
Bharat Bhushan
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 22. helmikuuta 2006 |
| ISBN13 | 9783540269090 |
| Tuottaja | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Sivujen määrä | 378 |
| Mitta | 166 × 243 × 21 mm · 716 g |
| Kieli | German |
| Toimittaja | Bhushan, Bharat |
| Toimittaja | Fuchs, Harald |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Bharat Bhushan
Katso kaikki joka sisältää Bharat Bhushan ( Esim. Hardcover Book , Paperback Book Ja Book )