Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - perjantai 12. helmikuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Hinta
€ 111,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 22. - 30. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. helmikuuta 2010
ISBN13 9783642065965
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 378
Mitta 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Kieli Saksa  
Toimittaja Bhushan, Bharat
Toimittaja Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver