Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition
Hinta
€ 111,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 22. - 30. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | perjantai 12. helmikuuta 2010 |
| ISBN13 | 9783642065965 |
| Tuottaja | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Sivujen määrä | 378 |
| Mitta | 155 × 235 × 21 mm · 639 g |
| Kieli | Saksa |
| Toimittaja | Bhushan, Bharat |
| Toimittaja | Fuchs, Harald |