Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Kirjat - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - torstai 1. marraskuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

Hinta
€ 296,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 7. - 15. tammi 2026
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä torstai 1. marraskuuta 2012
ISBN13 9783709172049
Tuottaja Springer Verlag GmbH
Sivujen määrä 554
Mitta 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Peter Pichler

Näytä kaikki

Katso kaikki joka sisältää Peter Pichler ( Esim. Book , Hardcover Book Ja Paperback Book )