Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Kirjat - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - perjantai 14. elokuuta 2015
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

Souvik Mahapatra

Hinta
₺ 4.741

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 4. - 12. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä perjantai 14. elokuuta 2015
ISBN13 9788132225072
Tuottaja Springer, India, Private Ltd
Sivujen määrä 269
Mitta 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
Toimittaja Mahapatra, Souvik

Katso kaikki joka sisältää Souvik Mahapatra ( Esim. Hardcover Book )