Toggle navigation
Tanskasta 2005 lähtien
EUR
AUD
(Australian Dollars)
A$
BRL
(Brazilian real)
R$
CAD
(Canadian Dollars)
CA$
CHF
(Swiss francs)
Fr.
CNY
(Chinese yuan)
元
CZK
(Czech koruny)
Kč
DKK
(Danske kroner)
EUR
(Euro)
€
GBP
(Pounds Sterling)
£
HKD
(Hong Kong dollars)
HK$
HUF
(Hungarian forints)
Ft
ILS
(Israeli shekel)
₪
ISK
(Icelandic kronur)
Íkr
JPY
(Japanese yen)
¥
KRW
(South Korean won)
₩
MXN
(Mexican peso)
Mex$
NOK
(Norwegian kroner)
NOK
NZD
(New Zealand dollars)
PLN
(Polish złotys)
zł
SEK
(Svenske kroner)
SEK
SGD
(Singapore dollars)
S$
TRY
(Turkish lira)
₺
USD
(Dollars)
$
ZAR
(South African rand)
R
Dansk
Deutsch
Deutsch (Switzerland)
English
English (Australia)
English (Canada)
English (United Kingdom)
Español
Français
Nederlands
Norsk
Polski
Português
Português do Brasil
Suomi
Svenska
Vlaamse (Belgium)
Hae
Hae
Hae
Tarkennettu haku
Asiakaspalvelu
Asiakaspalvelu
Asiakaspalvelu
Kysymykset ja vastaukset
Vinyyli UKK
Yhteystieto
Lahjakortti
Kirjaudu sisään
Hae
Kaikki 2s julkaisut Yusuf Leblebici
Home
Sale
Vinyyli
CD-levyjä
K-pop
Elokuva
Kirjat
Merchandise
Home
Home
Sale
Vinyyli
CD-levyjä
K-pop
Elokuva
Kirjat
Fanituote
Hae
Hardcover Book
Paperback Book
Näytä loppuunmyydyt julkaisut
Julkaisut sisältäen
Yusuf Leblebici
keskiviikko 30. kesäkuuta 1993 – torstai 27. syyskuuta 2012
Paperback Book
Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition
Hot-carrier Reliability of Mos V...
(2012)
Yusuf Leblebici
€ 233,99
Osto
Hardcover Book
1993 edition
Hot-Carrier Reliability of MOS V...
(1993)
Yusuf Leblebici
€ 233,49
Osto
![Cover for Yusuf Leblebici · Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science (Paperback Book) [Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition] (2012)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/290/9781461364290.jpg?yusuf-leblebici-2012-hot-carrier-reliability-of-mos-vlsi-circuits-the-springer-international-series-in-engineering-and-computer-science-paperback-book&class=scaled&v=1522819387)
![Cover for Yusuf Leblebici · Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science (Hardcover Book) [1993 edition] (1993)](https://imusic.b-cdn.net/images/item/original/528/9780792393528.jpg?yusuf-leblebici-1993-hot-carrier-reliability-of-mos-vlsi-circuits-the-springer-international-series-in-engineering-and-computer-science-hardcover-book&class=scaled&v=1410176406)