Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models - Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) - Kirjat - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780128007471 - perjantai 21. maaliskuuta 2014
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.)

Hinta
CA$ 117,69

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 18. - 29. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Helps you educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level.

108 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 21. maaliskuuta 2014
ISBN13 9780128007471
Tuottaja Elsevier Science Publishing Co Inc
Sivujen määrä 108
Mitta 154 × 228 × 6 mm   ·   154 g

Katso kaikki joka sisältää Bernstein, Joseph (Ariel University, Ariel, Israel.) ( Esim. Paperback Book )