Advanced VLSI Design and Testability Issues - Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata - Kirjat - Taylor & Francis Ltd - 9780367492823 - keskiviikko 19. elokuuta 2020
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata
Advanced VLSI Design and Testability Issues 1. Painos

Hinta
€ 181,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke 14. - 28. loka
Saat ilmoituksen artistin Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 19. elokuuta 2020
ISBN13 9780367492823
Tuottaja Taylor & Francis Ltd
Sivujen määrä 360
Mitta 241 × 162 × 27 mm   ·   718 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Toimittaja Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Toimittaja Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata