Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Advanced VLSI Design and Testability Issues 1. Painos
Hinta
€ 72,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke 22. heinä - ke 5. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Advanced VLSI Design and Testability Issues
This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.
360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | perjantai 15. huhtikuuta 2022 |
| ISBN13 | 9780367538361 |
| Tuottaja | Taylor & Francis Ltd |
| Sivujen määrä | 360 |
| Mitta | 154 × 234 × 35 mm · 570 g |
| Kieli | Englanti |
| Toimittaja | Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.) |
| Toimittaja | Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.) |
| Toimittaja | Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India) |
