Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - torstai 21. kesäkuuta 2007
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

Hinta
€ 205,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 20. - 30. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Manoj Sachdev uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.


328 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 21. kesäkuuta 2007
ISBN13 9780387465463
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 328
Mitta 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Kieli Englanti  

Lisää samalta julkaisijalta