Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Manoj Sachdev 2nd ed. 2007 edition
Hinta
€ 205,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 20. - 30. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Manoj Sachdev uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing
Manoj Sachdev
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.
328 pages, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 21. kesäkuuta 2007 |
| ISBN13 | 9780387465463 |
| Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sivujen määrä | 328 |
| Mitta | 155 × 235 × 20 mm · 721 g |
| Kieli | Englanti |