Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques - Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) - Kirjat - John Wiley & Sons Inc - 9780471624639 - keskiviikko 2. joulukuuta 1987
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)

Hinta
€ 287,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti - to 4. - 13. helmi

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques

Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.

368 pages, Ill.

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 2. joulukuuta 1987
ISBN13 9780471624639
Tuottaja John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 368
Mitta 165 × 240 × 23 mm   ·   610 g

Katso kaikki joka sisältää Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) ( Esim. Hardcover Book )