Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Kirjat - Cambridge University Press - 9780521482660 - torstai 23. toukokuuta 1996
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

Hinta
€ 161,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma 29. heinä - to 8. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi

Löytyy myös muodossa:

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 23. toukokuuta 1996
ISBN13 9780521482660
Tuottaja Cambridge University Press
Sivujen määrä 458
Mitta 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg

Katso kaikki joka sisältää Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )