Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Kirjat - Springer - 9780792390589 - sunnuntai 31. joulukuuta 1989
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

Debashis Bhattacharya

Hinta
€ 123,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe 29. marras - ti 10. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.

160 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä sunnuntai 31. joulukuuta 1989
ISBN13 9780792390589
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 160
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   426 g
Kieli English  
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Debashis Bhattacharya

Katso kaikki joka sisältää Debashis Bhattacharya ( Esim. DVD , Hardcover Book , Paperback Book Ja CD )