
Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
Hinta
₪ 396
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ma - ti 4. - 12. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition
Kenneth M. Butler
For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.
132 pages, biography
Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
Julkaisupäivämäärä | torstai 31. lokakuuta 1991 |
ISBN13 | 9780792392224 |
Tuottaja | Springer |
Sivujen määrä | 132 |
Mitta | 155 × 235 × 11 mm · 399 g |
Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Kenneth M. Butler ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )