Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Jose Pineda de Gyvez - Kirjat - Springer - 9780792393061 - torstai 31. joulukuuta 1992
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Jose Pineda de Gyvez

Hinta
Ft 46.597

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - pe 6. - 15. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's).

167 pages, 48 black & white illustrations, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 31. joulukuuta 1992
ISBN13 9780792393061
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 167
Mitta 155 × 235 × 12 mm   ·   453 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Jose Pineda de Gyvez ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )