Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition
Frans P. M. Beenker
Hinta
S$ 222,75
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 2. - 10. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition
Frans P. M. Beenker
Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.
212 pages, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 30. marraskuuta 1995 |
| ISBN13 | 9780792396581 |
| Tuottaja | Kluwer Academic Publishers |
| Sivujen määrä | 212 |
| Mitta | 170 × 244 × 14 mm · 498 g |
| Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Frans P. M. Beenker ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )