Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Hisham Haddara - Kirjat - Springer - 9780792396956 - keskiviikko 31. tammikuuta 1996
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

Hisham Haddara

Hinta
Kč 3.693

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti - ke 12. - 20. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Characterization Methods for Submicron MOSFETs - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.

232 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 31. tammikuuta 1996
ISBN13 9780792396956
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 232
Mitta 155 × 235 × 15 mm   ·   530 g
Kieli English  
Toimittaja Haddara, Hisham

Katso kaikki joka sisältää Hisham Haddara ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )