From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Kirjat - Springer - 9780792397144 - tiistai 30. huhtikuuta 1996
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing 1996 edition

Jitendra B. Khare

Hinta
Íkr 14.430,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 13. - 21. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing 1996 edition

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 30. huhtikuuta 1996
ISBN13 9780792397144
Tuottaja Springer
Sivujen määrä 150
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   417 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Jitendra B. Khare ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )