Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition
Yervant Zorian
Hinta
€ 128,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti - to 17. - 26. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition
Yervant Zorian
This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.
167 pages, biography
Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
Julkaisupäivämäärä | lauantai 31. toukokuuta 1997 |
ISBN13 | 9780792399209 |
Tuottaja | Kluwer Academic Publishers |
Sivujen määrä | 167 |
Mitta | 203 × 254 × 11 mm · 535 g |
Kieli | English |
Toimittaja | Zorian, Yervant |
Katso kaikki joka sisältää Yervant Zorian ( Esim. Hardcover Book )