Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE) - Singh - Kirjat - SPIE Press - 9780819431516 - keskiviikko 30. kesäkuuta 1999
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)

Singh

Kirjaudu sisään saadaksesi viestin kun tuotetta on jälleen saatavilla
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography: XIII (Proceedings of SPIE)

1052 pages, illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 30. kesäkuuta 1999
ISBN13 9780819431516
Tuottaja SPIE Press
Sivujen määrä 1052
Mitta 1,74 kg   (Arvioitu paino)
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Singh

Katso kaikki joka sisältää Singh ( Esim. Book , Hardcover Book Ja Paperback Book )