Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. Painos
Pradeep Lall
Lisää iMusic-toivelistallesi
Löytyy myös muodossa:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1. Painos
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 24. huhtikuuta 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Tuottaja | Taylor & Francis Inc |
| Sivujen määrä | 328 |
| Mitta | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Pradeep Lall ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )